Přeskočit na hlavní obsah
Přeskočit hlavičku

Měřicí metoda:

Intenzitní diferenciální magneto-optická metoda s využitím vektorové magnetometrie, studium lineárních a kvadratických magneto-optických jevů.

Přístrojové vybavení:

Červená laserová dioda (670 nm), modrý laser (405 nm), IČ laser (1550 nm), foto-elastický modulátor (PEM), polarizátory, Wollastonův hranol, čtvrt-vlnová destička, Si detektory, Lock-in zesilovač, napájecí zdroj Kepco, antivibrační stůl, Teslametr, DAQ převodníky, vzduchové cívky a cívky s pólovými nástavci, držák vzorku s možností rotace a posuvu v osách xyz, držák sloužící k namáhání vzorku.

Zkoumané materiály:

Pevné feromagnetické a ferimagnetické materiály – tenké vrstvy, multivrstvy, amorfní a nanokrystalické materiály na bázi Fe, Co a Ni.

Zkoumané vlastnosti materiálů:

  • povrchové hysterezní smyčky (u kovů průnik světla jen cca desítky nanometrů) a jejich parametry (koercitivní a anizotropní pole, saturace a remanence magnetooptických jevů, závislost na úhlu dopadu a vlnové délce světla)
  • vektorová magnetometrie – citlivost ke složkám vektoru magnetizace ležících v rovině vzorku (longitudinální složka – rovnoběžná s rovinou dopadu světla a magnetickým polem, transverzální složka – kolmá na rovinu dopadu světla a magnetické pole) a ke složce ležící kolmo k povrchu vzorku (polární složka)
  • analýza magnetické anizotropie s využitím rotace vzorku a magnetického pole
  • sledování homogenity magnetických vlastností díky lokálnosti metody a možnosti fokusovat laserový svazek do různých míst na povrchu vzorku
  • studium hloubkové a materiálové citlivosti magneto-optických jevů
  • modelování magneto-optické odezvy tenko-vrstevných systému (stanovení indexu lomu a tloušťky vrstev) s využitím modelů pro šíření světla v tenkých anizotropních vrstvách